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SSD的基本架构
SLC、eSLC、MLC、eMLC的区别
NAND闪存颗粒结构及工作原理
ONFI闪存数据通道接口标准
NAND闪存颗粒品质对SSD稳定性的影响
SSD常见问题的技术分析
AHCI对性能的影响
LPM节能技术的作用
SSD性能(跑分)下降的原因
SSD为何必须分区对齐
IOPS数值的意义
m4固件升级的意义
m4的SMART信息有何秘密
Crucial下一代SSD的展望

SSD性能(跑分)下降的原因

       对于接触SSD不久的人,经常都会产生一种疑问,那就是当SSD使用过一段时间后,再运行测试软件,得到的成绩几乎都肯定要比刚买回来时差,而且时间越长,差距就越明显,这是为什么呢?
       大家从之前的内容已经了解SSD的工作原理及特点,相比传统HDD,SSD最大的差异就在于其使用的NAND闪存无法进行覆盖操作,在已经被写入数据的位置,要重复写入的话,SSD就必须先对该位置进行擦除的操作,而且擦除操作的最小单位比写入操作的要大。说到这里,相信大家都已发觉原因所在了。
       SSD写入数据后,相同的地方未进行擦除是无法再写入数据的,当有需要写入新数据时,就只能写入到‘空闲’的地方,但若‘空闲’的地方不足以存放需要写入的数据,SSD便要进行GC,而GC操作是肯定要消耗占用一部分的SSD性能的,因此此时进行测试,所得的成绩自然就比刚买回来的时候要差,那时因为没写入过数据,全盘空间都是‘空闲’的,没需要进行GC,SSD自然可以用全部性能来进行测试。
            
       上面是一张本站neeyuese所画关于SSD三种状态的图片,大家看过后应该更能理解SSD下降的性能都跑到什么地方去了。
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